| 系統概述 | |||||
| 工作模式 | 高精度模式 | ||||
| 測量原理 | X射線錐束CT | ||||
| 傳感器技術 | 平板探測器 | ||||
| 軟件 | 操作系統: ZEISS METROTOM OS | ||||
| 應用 | 分析軟件: ZEISS CALYPSO，VGStudio MAX | ||||
| 射線及傳感器技術 | |||||
| ZEISS METROTOM | 單位KV | 800/130 kV | 800/225 kV | 1500/225 kV | |
| 微焦點X射線管 | 最大管電壓 | KV | 130 | 225 | 225 |
| 最大管電流 | μA | 300 | 3000 | 3000 | |
| 最大目標功率 | W | 39 | 500 | 500 | |
| 最小焦點尺寸 | mm | 0.005 | 0.007 | 0.007 | |
| 平板探測器 | 像素數 | 1536x1920 | 1024x1024 | 2048x2048 | |
| 像素尺寸 | μm | 127x127 | 200x200 | 200x200 |
| 分辨率( I SO 15708) 2) | 單位 | 800/130 kV | 800/225 kV | 1500/225 kV | |
| 最大空間分辨率，調輻度傳遞10% | μm | 3.5 (143 lp/mm 3) | 6.0 (83 lp/mm 3) | 4.0 (125 lp/mm 3) | |
| 精度 (MPE 符合 VDI/VDE 2630 sheet 1.3) 4) | 單位 | 800/130 kV | 800/225 kV | 1500/225 kV | |
| 球心距誤差 | SD (TS) | μm | 2.9+L/100 | 4.0+L/100 | 4.5+L/50 |
| 探測誤差 | PS (TS) | μm | 3 | 3 | 3 |
| PF (TS) | μm | 4 | 4 | 4 | |
| 長度測量誤差 5) | E (TS) | μm | 6.9+L/100 | 8+L/100 | 9+L/50 |
| 測量范圍 | 單位 | 800/130 kV | 800/225 kV | 1500/225 kV | ||
| A) 無圖像區域擴展的成像體積 | 縱向 （標準 ） |
橫向 | ||||
| 最大直徑 | mm | 150 | 170 | 170 | 305 | |
| 最大高度 | mm | 170 | 115 | 150 | 260 | |
| B) 啟用最大垂直圖像區域 擴展 | 最大直徑 | mm | 150 | 170 | 170 | 305 |
| 最大高度 | mm | 360 | 360 | 405 | 655 | |
| C) 啟用最大垂直及水平圖像 | 最大直徑 | mm | 275 | 300 | 300 | 570 |
| 區域擴展(可選) | 最大高度 | mm | 360 | 360 | 390 | 550 |
如何在不犧牲最大產量的前提下，可靠地檢測部件內部的缺陷？使用蔡司工業CT METROTOM 800 225kV HR工業電腦斷層掃描就可以做到這一點，它是第一個完集成到生產線上的同級產品，可以提升最快的100%檢測速度。
1.高吞吐量
在不到 60 秒的時間內，可以使用X射線斷層掃描儀的掃描組件。 這保證了生產線的高產量。
2.巧妙的設計
通過減少裝載和卸載時間提高吞吐量！蔡司工業CT的直通概念可實現快速加載。 因此，停機時間減少到最低限度，從而允許更高的吞吐量。
3.充分的靈活性
用于容納各種組件的可單獨配置的系統具有可適應您的生產環境的傳送帶。
4.空間要求低
由于蔡司工業CT METROTOM 800 225kV HR工業電腦斷層掃描占地面積小，系統可以非常靈活地定位。 通過這種方式，您可以通過有效利用生產中的寶貴空間來降低擁有成本。
用于質量保證的三維X射線測量技術
ZEISS METROTOM
產品技術
●大幅節省操作準備時間80%以上起
●全新外觀設計、用戶界面及軟件功能
●不占用機器的預調 >確保機器100%的使用率
●實現托盤上方工件的簡捷調整
●模擬仿真滿足水平擴展(VHD虛擬水平探測器擴展)掃描的預調要求(Y軸向)
●滿足自動垂直擴展 (Volume merge體積合并)掃描的預調要求Z軸向)
●整體測量范圍記錄、 體素顯示及參數設置報告輸出
●避免錯誤操作及優化測量精準性
● 設計柔性簡便、適用于所有蔡司CT產品
●延長射線管壽命 避免工件機內調整時的頻繁啟停)
●競爭對手無相對應產品
●提升測量操作效能及成本節省
整體部件的三段掃描及自動合并實現高分辨率數據集: Volume Merge體積合并
滿足超過探測器尺寸樣品的掃描應用: VHD虛擬水平探測器擴展
結合大功率射線管及散射校正(SRC) 的AMMAR高級復合材料仿影縮減
提升復合材料圖像質量
側重于兩種材料的應用，例如漣接器
更多塑料部位細節信息
改善缺陷分析質量
更清晰的材料邊界
更均勻的材料灰度值
軟件版本: METROTOM OS 3.2或以上
自動分離及自動評定每個子體積數據: Separation 自動分離
●一次掃描多個樣品，操作簡捷
●自動為每個樣品創建體積數據
●縮喊每個樣品的掃描時間
使用蔡司METROTOM輕松進行測量
測量與檢驗整體部件
蔡司METROTOM是一種工業計算機斷層掃描系統，用于測量和檢查由塑料或輕金屬制成的完整部件。而在利用傳統測量機測量時，此類隱藏性的結構信息只有將零件通過費時的層層破壞方能獲得。
輕松且精準地進行多樣化特征檢測
利用蔡司METROTOM計算機斷層掃描系統可一-次掃描海量的零層掃描系統可一-次掃描海量的零確，且具可追溯性。和接觸式測量方法不同，蔡司METROTOM獲取海量測量點時，時間顯著縮短。
應用及客戶案例更新
塑料制品尺寸及形位公差高精度坐標測量應用實例
動力電池領域的CT應用
應用實例更新
增材制造領域的CT應用
應用實例更新
產品技術更新
增值軟件系列
